激光測(cè)徑儀的分類(lèi)有哪些？

測(cè)徑儀大至分激光掃描測(cè)徑儀，CCD投影測(cè)徑儀，激光衍射測(cè)徑儀，其中前兩者都屬光學(xué)的幾何原理，后者為利用光學(xué)的波動(dòng)原理。

CCD投影測(cè)徑儀，由于電機(jī)速度畢竟有限，且掃描的平行光帶不太容易保證，再加上現(xiàn)在平行光管與CCD的技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)在很多企業(yè)開(kāi)始采用CCD成像法測(cè)量直徑，其光源采用波長(zhǎng)較長(zhǎng)的紅外光，抗干擾較強(qiáng)，由于少了許多機(jī)械件，所以設(shè)備較穩(wěn)定可靠，但CCD成像受相素的制約，在精度上不太容易拓展，特別是大直徑的物體測(cè)量，但又不能太細(xì)，太細(xì)會(huì)有掃描測(cè)徑儀相同的問(wèn)題。

激光衍射測(cè)徑儀，利用衍射原理測(cè)量細(xì)線(xiàn)的直徑，此技術(shù)與前兩項(xiàng)剛好相反，適用于測(cè)小直徑的細(xì)絲，而且越細(xì)越好，因?yàn)榇思夹g(shù)是利用衍射原理。

在大直徑測(cè)量方面， 大直徑測(cè)量主要有兩個(gè)方向，一個(gè)是通過(guò)雙鏡頭實(shí)現(xiàn)，但這樣會(huì)犧牲一些小直徑的測(cè)量范圍，另一種是通過(guò)單鏡片實(shí)現(xiàn)，但這樣對(duì)鏡頭的加工難度和質(zhì)量保證及成本控制上提出較大要求。