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產品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | MITUTOYO/日本三豐 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子/電池 |
Mitutoyo日本三豐光學鏡頭顯微鏡單元介紹
Mitutoyo日本三豐光學鏡頭顯微鏡單元
視頻顯微鏡單元 VMU特點
·緊湊、輕巧的相機觀察專用顯微鏡。
適用于金屬、樹脂、印刷表面、微小運動物體等各種觀察對象。
·適用于使用YAG激光(近紅外、可見、近紫外、紫外)的微細加工。※
※不保證激光振蕩器配備系統的綜合性能和安全性。
半導體電路的切割、修整、修正、打標、薄膜(絕緣膜)的去除和加工、液晶彩色濾光片等的修復(修正缺陷)等。
·適用于紅外光學系統?！?br style="box-sizing: border-box; margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; overflow-wrap: break-word !important;"/>
※另需紅外光源和紅外攝像機等。
硅類的內部觀察、紅外光譜特征分析等。
大視場視頻顯微鏡單元 WIDE VMU特點
·高密度配置多個單元，可以對大范圍進行集中檢查。
·除了通常的明視場觀察外，還適合用于外觀檢查和劃痕檢查的暗視場觀察，以及具有偏光特性的觀察對象的偏光觀察。
精密顯微鏡單元 FS70特點
·帶目鏡觀察部的小巧顯微鏡單元。
適用于金屬表面和半導體、液晶、樹脂等各種觀察對象。
·適用于使用YAG激光(近紅外、可見、近紫外、紫外)的微細加工。※
※不保證激光系統產品的性能和安全性。
半導體電路的切割、修整、修正、打標、薄膜(絕緣膜)的去除和加工、液晶彩色濾光片等的修復(修正缺陷)等。并適合作為半導體故障分析用探針臺的光學觀察部分。
·適用于紅外光學系統。※
※另需紅外光源和紅外攝像機等。
硅類的內部觀察、紅外光譜特征分析等。
明視場用物鏡M Plan Apo / M Plan Apo HR特點
·無限遠校正
·明視場觀察用
·長工作距離
·平場復消色差規格
明視場用近紅外區校正 物鏡M Plan Apo NIR /M Plan Apo NIR HR特點
·無限遠校正
·明視場觀察及激光加工用
·長工作距離
·平場復消色差規格
·對可見區(常用觀察波長區)到近紅外區(波長～1800nm)進行了校正設計。
明視場用紫外區校正 物鏡M Plan UV特點
·無限遠校正
·明視場觀察及激光加工用
·長工作距離
·對紫外區(波長266nm)和可見區(常用觀察波長區)進行了校正設計。
·重點保證了紫外區的高透射率。
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